二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT #201040 待售

FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 128NT Wafer Testing and Metrology Equipment是一種自動化測試和測量解決方案,旨在幫助半導體織物達到當今制造工藝的高可靠性目標。FSM 128NT針對從深亞微米到MEMS和光電子的廣泛技術進行了優化，並利用最新的無損測試技術驗證產量，確保質量一致。該系統提供先進的自動化晶圓測試和分析功能,使半導體公司能夠實現更高水平的過程控制和過程可靠性。它結合了運動控制和光學技術，包括高分辨率、基於能力的光學計量單元和多區多功能運動控制技術。自動化的缺陷檢測和審查可實現快速、高度準確的測試結果。FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT配備了強大的圖形用戶界面,可提供易於使用和直觀的體驗。其現成的軟件使其易於定制和維護；其他功能使用戶能夠通過網絡實時訪問和查看測試結果。此外,該機器還提供最先進的過程控制功能,包括缺陷分類和審查,以減少上市時間並改進晶圓測試結果。該工具的硬件設計支持各種晶圓尺寸,從3.2英寸到200毫米,以及一系列測試技術,包括參數分析和瞬態分析,以及封裝級測試。該資產包括生產前測試解決方案,使設計人員能夠對具有不同測試計劃和公差的過程執行自動化測試。通過128NT,測試時間大大縮短,生產過程效率提高。自動測試和分析過程可以減少處理時間（通常在10%到20%）,從而騰出寶貴的生產時間。此外，數據分析能力，如統計過程控制，提供準確和可重復的結果。此外,FSM 128-NT具有高度可配置性,並提供了許多功能,使其用戶能夠自定義測試和分析過程以獲得最佳結果。高級功能（如多模式識別）允許模型識別和分類細微且難以檢測的缺陷,而這些缺陷通常很難通過手動測試來識別。此外，設備在人工檢查困難或耗時的地區提供模塊化檢查和簽到。FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR 128-NT是一種先進的晶圓測試和計量系統,非常適合確保半導體制造過程的高可靠性。它的自動化測試和分析功能被設計為高度準確、可重復和高效,從而縮短了上市時間,同時提高了產量。該單元與各種技術兼容,並提供全面的數據分析功能,以實現準確、可重復的結果。