二手 FSM / FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413 #9159951 待售

ID: 9159951
優質的: 2013
Wafer thickness measurement system 2013 vintage.
來自FSM的FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413晶圓測試和計量設備是一個專為計量和過程控制而設計的全自動系統。該單元能夠對稀釋樣品和非稀釋樣品進行高精度測量,同時為晶片提供質量保證。FSM FSM 413先進的光學和成像技術提供了卓越的成像能力,分辨率降至4nm,光信噪比(SNR)高達800:1。該機具有廣泛的工作電壓範圍,以容納各種晶片,範圍從幾毫安的電流抽取到1安培。此外,其先進的激光技術為快速準確的測量大面積提供了寬束直徑。FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413利用單色CCD特征陣列在晶圓表面進行多通道測量。這使用戶能夠準確地測量和監視晶片表面的自動化電氣、光學和材料特性。該測量工具還具有高精度機械級,可精確定位晶圓,並提供有關量規可重復性的反饋。資產最令人印象深刻的特點之一是其全自動晶圓測試和計量模型。該設備采用專有的自動聚焦跟蹤系統,以確保每個晶片的最佳圖像捕獲,從而準確測量參數。它還提供了存儲各種測量值的大內存容量以及簡單直觀的圖形用戶界面,這使得FSM 413易於使用。此外,FSM/FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413可以與多種第三方硬件耦合,以允許擴展功能和過程控制。這使得將單元整合到現有生產線和工作流程中變得容易。此外,Frontier為FSM FSM 413開發了先進的支持軟件,以提供準確快速的晶圓測試結果。總體而言,FRONTIER SEMICONDUCTOR FSM 413是過程控制和計量應用的理想解決方案。它結合了先進的光學、成像和自動化功能,使其成為晶圓生產和產量管理的強大工具。
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