二手 HANRA HRI 580L #9200946 待售

半導體工業使用HANRA HRI 580L晶片測試和計量設備對IC、晶片和元件進行全面分析和表征。它具有高分辨率成像系統、多角度散射測試單元和基於光譜儀的計量單元。成像機采用專門的數字顯微鏡，能夠快速連續拍攝同一晶片不同部位的多幅圖像。這允許對每個IC和每個組件的組成和對齊方式進行更詳細的分析。該工具還具有內置網格形成和尺寸測量功能,以提供快速、精確的結果。多角度散射測試單元允許以三個不同角度對晶圓或元件進行詳細分析。該單元測量各零件的尺寸、形狀和方向等參數,以便提供有關其電氣和物理特性的信息。這樣可以優化工藝參數,並確保生產的每個設備的質量。基於光譜儀的計量資產采用光譜技術來測量晶圓或組件的化學、電氣和光學特性。該模型可用於各種應用，如缺陷測試、確定汙染物的存在以及分析電阻抗。使用此設備,用戶可以在不到一分鐘的時間內獲得結果,從而實現更高效的生產工作流程。HRI 580L晶圓測試和計量系統提供了強大的組件組合，以協助IC和其他組件的表征和優化。其成像單元、多角度散射測試和基於光譜儀的計量機允許對每個零件進行詳細分析，提供必要的數值，以確保生產運行成功並取得質量結果。