二手 HEXAGON METROLOGY Global Vantage #9363428 待售

HEXAGON METROLOGY Global Vantage是為大體積半導體工業而設計的功能強大的晶圓測試和計量設備。它使用最先進的技術來精確測量和檢測晶片和基板上的缺陷。該系統具有全面的檢查能力,並利用2D和3D技術檢測各種潛在缺陷。Global Vantage提供了一個自動光學檢查單元，用於對半導體和內存晶片進行高效、準確的表面檢查。它配備了用於識別各種缺陷的內置工藝，如劃痕、異物顆粒以及晶片和基板上的裂紋。該機器還采用了全面的CCD圖像融合技術，使用戶能夠將每個晶片的正面和側面視圖相結合，以更好地分析它。該工具還提供了許多復雜的晶圓計量解決方案。其晶圓表面映射資產提供了晶圓或基材地形的精確測量。它還支持各種先進的檢測技術，如SEM、FIB、AFM和納米顯微鏡，使用戶能夠快速識別最苛刻的半導體應用中的微觀缺陷。這款功能強大、精密的機型可在最小停機時間內運行,並提供多種設備配置選項。該系統設計緊湊，易於集成，適合任何半導體生產環境。它還具有具有遠程訪問的通用軟件界面，因此用戶可以從任何計算機工作站訪問和配置所有子系統。HEXAGON METROLOGY Global Vantage是檢測晶圓和基板缺陷的強大而可靠的工具。其先進的計量解決方案和自動光學檢查功能為要求最苛刻的半導體生產環境提供了無與倫比的質量保證級別。無論是用於晶圓表面映射、缺陷檢測,還是用於高級計量解決方案,Global Vantage都是大容量半導體行業的理想設備。