二手 HITACHI G-S006-02-0012 #9377468 待售

HITACHI G-S006-02-0012是一種晶圓測試和計量設備，具有高精度和卓越的重復性，可確保半導體制造的最大收率。該系統提供卓越的性能、可靠性和成本效益，以滿足半導體制造業日益增長的需求。G-S006-02-0012是一個全自動單元，可以快速準確地測試半導體晶片的形狀、尺寸和其他物理特性。配備了接觸式探測站、數字光學顯微鏡、高分辨率分析探測器和先進的嵌入式控制器，提供快速、精確的測試。這臺機器是建立在一個緊湊的框架，占用最小的空間和降低成本。此外，HITACHI G-S006-02-0012具有廣泛的適用材料，包括單半球、SCUBA型和SOIC型晶片。G-S006-02-0012上的接觸式探測站用於測量半導體器件的物理尺寸。它具有一系列手動放置的探針與晶圓表面直接接觸。探頭配有電容傳感器和感應傳感器，用於檢測晶圓的確切形狀、大小和其他物理特性。接觸式探頭站還具有高精度的線性級，允許探頭在晶圓上精確移動。HITACHI G-S006-02-0012提供的數字光學顯微鏡允許對晶圓表面特征進行微觀檢查。該工具配備了先進的復合光學資產，用於捕獲晶圓表面的高分辨率圖像。然後可以利用圖像處理技術對圖像進行進一步分析，以檢測裂紋和微觀輪廓等微小缺陷。該模型還提供了廣泛的操作模式，如多層檢查、像素級變焦和眼底成像。G-S006-02-0012還利用各種分析探測器準確量化晶圓的電性能。其中包括高範圍掃描廣域探測器（HRSA）和掃描成像探測器（SWID）。HRSA用於測量晶圓表面的電阻和電容，而SWID可以識別和定位電壓中的小波動。這兩個探測器在確保生產的半導體器件的質量方面都發揮著重要作用。HITACHI G-S006-02-0012為晶圓測試和計量提供了完整的解決方案。其集成的設計、先進的功能和先進的探測器以經濟實惠的價格提供了最佳性能。該設備使制造商能夠快速準確地測試/檢查晶片的形狀、尺寸和其他物理特性,同時確保半導體制造的最大產量。