二手 HOMMEL-ETAMIC W10 #293755236 待售
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ID: 293755236
Surface profile roughness gauge
Type: Skidded pick up
Maximum traversing length 17.5 mm, Cut Off 0.25 / 0.8 / 2.5 / mm
(40) Surface roughness parameters according to DIN EN ISO 4287, DIN EN ISO 13565, ISO 12085 and JIS B601 MOTIF
(7) Measuring programs with individual measurement / evaluation conditions
Touch screen: 4.3" (11 cm) color
Display of parameters, profiles, material ratio and statistical data
Integrated printer with Easy-Paper-Loading function
Memory for 2000 readings and 500 profiles for each measuring program
USB - interface for PC connection
Operation: Cord/cordless
Base unit with rest and barrel jack
Traverse unit LV17, 17.5 mm tracing length, tripod legs
Pick up T1E, 2μm/90°, skid radius 30/1.95 mm
Integrated surface roughness standard with data sheet
Calibration Certificate for the instrument
2 Rolls of printer paper
Probe protection with lighting
Support prism for small shafts
Charger/AC Adapter: 100 V to 240 V
USB Cable
Instruction manual.
HOMMEL-ETAMIC W 10是一種先進的晶圓測試和計量設備，為評估半導體晶圓的質量和性能提供高度精確的測量能力。該系統旨在滿足半導體行業的苛刻要求，為晶圓檢測、測試和分析提供了全面的解決方案。W10單元的核心是一個先進的計量平臺，它利用尖端技術以極高的精度測量半導體晶片的關鍵參數。該機配備了一系列傳感器和測量模塊，允許用戶評估晶圓質量的各個方面，如表面粗糙度、平坦度、厚度和缺陷檢測。HOMMEL-ETAMIC W 10工具的關鍵特性之一是其高分辨率成像功能，使用戶能夠在微觀水平上捕捉晶圓表面的詳細圖像。這允許識別和分析可能影響晶片性能的缺陷、汙染或不規則性。該資產還提供高級成像算法和圖像處理工具,以提高圖像質量並從圖像中提取有價值的數據。除了成像能力外，W10模型還配備了精確的測量工具，讓用戶能夠量化重要的晶圓參數，比如表面粗糙度和平坦度。該設備利用各種計量技術，包括手寫筆分析、光學幹涉測量和激光掃描，準確測量晶圓表面的地形，並提供有關表面特征的詳細信息。此外,HOMMEL-ETAMIC W 10系統提供自動化的測量和分析例程,以簡化測試過程並確保一致和可靠的結果。該單元可以編程為在多個晶片上執行重復測量，從而實現高效的數據收集和分析。此外,該計算機還具有用戶友好的軟件界面,可為所有技能級別的用戶提供直觀的操作和數據可視化功能。W10工具的另一個顯著特點是它的多功能性和可擴展性，允許用戶自定義資產以滿足特定的測試要求，並適應不同的晶圓大小和類型。該型號可以配備額外的模塊和配件，以擴大其測量能力，並滿足半導體行業的具體測試需求。總體而言,HOMMEL-ETAMIC W 10設備代表了晶圓測試和計量的最新解決方案,提供先進的技術、精確的測量能力和用戶友好的操作。該系統具有全面的功能和可定制的選項,非常適合半導體制造商、研究機構和旨在確保其半導體晶片質量和可靠性的測試實驗室。
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