二手 ISIS SENTRONICS SemDex 300 #9269325 待售

ISIS SENTRONICS SemDex 300是一種晶圓測試和計量設備，提供高效準確的晶圓缺陷分析、測量和分類。它采用透射電子顯微鏡（TEM）技術，方便高分辨率成像和3D地形映射。當結合使用時,這些功能可用於對各種電容和電阻樣品進行缺陷檢測、晶圓制造缺陷檢測、無損計量和背面分析。該系統對光學采用雙波長幹涉儀，以便在測量到納米級的結構時獲得更高的精度。先進的精度水平確保了所有晶圓制造任務的高精度水平。此外,該單元還利用獨特的通用參考技術來確保信息在計量機器和其他設備（如C-CAD軟件、機器視景）之間準確收集和共享。SemDex 300還使用了專有的高公差掃描工具。這種高速掃描資產能夠在短短幾分鐘內準確生成百萬像素圖像。這樣可以有效地準確檢測缺陷和工藝變化。此外,該型號還具有多種標準和自定義檢查模式,包括亮場、暗場、自動索引和手動檢查。在分析不同種類晶圓相關缺陷時，多種檢測模式提供了一種可靠的方法。最後，ISIS SENTRONICS SemDex 300還提供了與其他軟件工具和硬件解決方案的集成。這允許用戶利用軟件的高性能處理功能來執行一系列其他任務。SENTRONICS SemDex 300能夠在平臺上構建定制的軟件應用程序,以及自動數據記錄和分析等功能,是一種功能強大且用途廣泛的晶圓測試和計量解決方案。