二手 ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 #9228734 待售

ISIS SENTRONICS SemDex 301-2是一種晶圓測試和計量設備，專門設計用於全面表征各種類型的半導體結構。該系統由兩個主要組成部分組成：一個高分辨率光學顯微鏡，能夠對納米級的結構進行成像；另一個模式識別單元，用於精確定位和測量結構內的各種特征。此外，該機還配備了一系列可選配件，如激光顯微鏡、共聚焦顯微鏡、拉曼光譜儀和a-scanner，為用戶在進行詳細結構分析方面提供了極大的靈活性。SemDex 301-2的核心是高分辨率光學顯微鏡，它能夠成像到納米級的結構。顯微鏡配備了多種物鏡，使用戶能夠有效地對包括矽、金屬和介電層在內的各種材料進行成像。使用先進的自動對焦技術將圖像完全聚焦,從而確保一致的結果。再者，顯微鏡獨特的光學構型允許高動態範圍成像，導致極為詳細的結果，並大大提高了所有尺度的測量精度。其次,ISIS SENTRONICS SemDex 301-2配備了高度復雜的模式識別工具,大大提高了特征檢測和測量的準確性,特別是對於高密度結構。該資產甚至能夠定位和測量最復雜的特征模式,如TSV、翻轉芯片和介電層。從該模型獲得的測量數據極其準確和可靠，因為它完全基於直接測量而不是假設。最後,SemDex 301-2除了具有令人印象深刻的一系列功能外,還配備了一系列可選附件,可以進行更大程度的結構分析。激光顯微鏡可用於電子特性的實時成像，而共聚焦顯微鏡和a-scanner可用於進行無損化學和物理測量。此外，還有一個拉曼光譜儀，可以對化學成分進行精確分析。總之，ISIS SENTRONICS SemDex 301-2是一種功能強大、用途廣泛的晶圓測試和計量設備，提供全面的高分辨率成像和特征識別。該系統非常適合許多不同類型的應用，允許其用戶自信地執行準確、可靠和詳細的晶圓測試和分析。