二手 KEYENCE LA-2010 #9253571 待售

KEYENCE LA-2010是設計用於半導體制造過程的最先進的晶圓測試和計量設備。它利用先進的技術來分析各種晶片的微觀特性，如矽、砷化移銨和其他半導體。該系統具有廣泛的測量和分析功能,包括納米級測量、3D成像、缺陷分析和表面粗糙度測試。LA-2010配有兩套集成光學系統，一套配有SEM（掃描電子顯微鏡），另一套配有幹涉顯微鏡，可以通過多種方式對晶片進行成像和分析。這包括使用SEM成像，聚焦電子束掃描晶圓表面，創建分辨率高達15納米的圖像。利用幹涉顯微鏡，KEYENCE LA-2010可以在納米範圍內精確測量晶圓的表面地形。該單元的三維成像能力使其能夠準確識別晶圓上的缺陷。LA-2010還具有廣泛的分析功能,例如缺陷和表面粗糙度分析,以及用於檢測分層缺陷的圖像分割。利用其模式識別技術，機器能夠準確識別晶圓表面的模式。這在評估納米級層和結構時特別有益。此外，KEYENCE LA-2010可以測量晶片的電阻率和介電特性，以及產生高精度的表面數字標高圖。LA-2010是一個可靠和強大的工具，可以幫助半導體制造商確保其晶片的最高質量。該資產全面的特性和分析能力允許對半導體晶圓進行最精確的檢驗和測試。使用KEYENCE LA-2010,制造商可以快速有效地識別缺陷,分析晶片特性,並確保其晶片符合質量標準和客戶要求。