二手 KIC THERMAL SlimKIC II #114986 待售

KIC THERMAL SlimKIC II脈沖晶片測試和計量設備是一種為高速晶片測試而設計的先進紅外掃描儀。該系統由紅外相機、垂直掃描臺和精密定位器組成。高分辨率照相機利用最新技術，在沒有接觸的情況下從樣本中收集數字數據，從而實現快速、準確的計量測量。精密定位器確保在測量前將樣品精確定位在舞臺上。垂直掃描階段提供快速、高精度的掃描能力。SlimKIC II單元設計用於在檢查過程中快速可靠地檢測晶片中的異常。利用圖像分析算法快速識別主要缺陷和次要缺陷。該機器能夠檢測出小的表面缺陷，如凹陷的芯片、橋接、擦傷和結點損壞。該工具的高級成像功能使其能夠檢測樣品表面的溫度變化,從而提供了管理熱測量可靠性的有效方法。KIC THERMAL SlimKIC II資產支持廣泛的計量應用，包括步高測量、平坦度和微幾何測量以及電阻測量。它的光學顯微鏡能力無與倫比，使它能夠測量精細的表面結構和任何對比的差異。它能夠檢查各種材料，包括矽和其他半導體材料，以便進行快速和高效的測試。SlimKIC II機型可靠性高，使用方便。它在溫度控制的環境中提供快速而準確的測試，允許準確和可重復的測量結果。設備也具有很高的靈活性，允許用戶快速、輕松地對測試設置進行更改。KIC THERMAL SlimKIC II脈沖晶片測試和計量系統具有先進的技術、直觀的控制和卓越的性能,是進行精確、精確的高速晶片測試的理想選擇。該設備是任何實驗室或生產設施的寶貴資產，其成本效益使其具有極高的價值。