二手 KLA / TENCOR 2830 CI #9257467 待售
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KLA/TENCOR 2830 CI是為半導體制造而設計的晶圓測試和計量設備。該系統功能強大且非常精確,可用於研究和行業應用。該單元的測量基於100 nm以下的實時3D測量。可用於層厚、平坦、平面、特征均勻性、X射線反射儀、均勻性、應力、互連性、粘附性、線寬、可打印性、光掩模缺陷檢測、圖像分析等多種功能。KLA 2830 CI是一種自動化機器，可以通過其批處理工具從頭到尾跟蹤每個晶片。其工藝控制器可以實時準確地確定每個晶片的真實狀態。它還配備了用於缺陷識別的高級算法，包括能夠準確發現和測量微小特征的視覺資產。TENCOR 2830 CI的晶圓處理模型設計為以納米級精度快速高效地移動晶圓。這種設備的設計目的是確保樣品處理以最小的晶圓損壞，並且可以容納各種各樣的晶圓尺寸。該晶圓處理系統還可以處理多次通過的測試結果，從而使用戶能夠輕松地識別出表面的任何可重復特征和粗糙度模式。2830 CI還允許輕松集成到現有測試系統中。它配備了模塊化的產品體系結構,可靈活設計和輕松集成現有的測試硬件。KLA/TENCOR 2830 CI具有自動讀取功能,能夠為用戶提供可靠、可重復的讀取功能,可用於開發和改進過程。該單元還設計用於處理各種軟件包,包括SEMVision、Euriware的光學和成像解決方案以及自動缺陷識別解決方案。KLA 2830 CI是一款功能強大、精密的機器，專為研究和行業應用而設計。其準確和可重復的讀數為用戶提供了做出明智決策所需的數據。TENCOR 2830 CI具有廣泛的功能選擇和靈活的設計,是任何半導體制造設施的重要補充。
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