二手 KLA / TENCOR 300DFF1P #9256650 待售

KLA/TENCOR 300DFF1P是一種先進的晶圓測試和計量設備，旨在為半導體行業提供無與倫比的精度和質量保證。該系統利用三維自動光學檢測技術，以極高的精度檢測和測量晶片表面的缺陷。它還包括晶圓缺陷校正過程，包括激光光刻、深反應性離子蝕刻（DRIE）和化學機械拋光（CMP），以有效解決發現的任何缺陷。KLA 300 DFF1P利用高速成像平臺，可以產生分辨率高達0.14微米的晶圓圖像。大功率數字信號處理和信號校準能力大大擴展了單元的靈敏度和動態範圍，使其能夠檢測到非常小的缺陷並測量其尺寸。此外,通過實時在線缺陷檢查過程進一步增強了機器的計量能力,該過程掃描每個扇區並隔離諸如缺失或移位結構、線路橋接或顆粒汙染等表面不規則性。TENCOR 300 DFF 1P還為用戶提供靈活的數據管理能力，讓他們能夠遠程存儲和訪問自己的測試數據和結果。該工具包括集成的報告和文檔選項,可輕松生成晶圓報告並創建任何測試結果的詳細記錄。該資產的用戶界面為用戶提供了一個高度直觀的導航結構,並且易於訪問所有特性和功能,從而最大限度地減少了停機時間並提高了工作效率。總體而言，300 DFF1P是一種用途廣泛、功能強大的晶圓測試和計量模型。其出色的成像、計量和數據管理功能使其成為尋求可靠和準確性能的任何半導體制造設施的理想選擇。憑借其先進的功能和易於使用的接口,KLA 300 DFF 1 P旨在確保產品質量、降低成本和最大化效率。