二手 KLA / TENCOR 4000 SURFSCAN #9388542 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 9388542
晶圓大小: 2"-6"
Wafer inspection system, 2"-6"
Substrate thickness: Semi standard thickness
High angle optics.
KLA/TENCOR 4000 SURFSCAN是一種先進的晶圓測試和計量設備,旨在提供廣泛的自動化、高級晶圓掃描和分析功能。該系統結合先進技術和創新功能,提供高速、高精度的晶圓表征和分析。SURFSCAN 4000專為要求最苛刻的晶圓測試環境而設計,也適用於現場和實驗室測量。KLA 4000 SURFSCAN利用高動態範圍成像和激光散射算法在幾分鐘內測量單晶片上廣泛的物理和化學特性。該技術能夠快速捕獲和表征所有相關的模具級特性,包括凹入的電介質、翻轉芯片焊球的位置和尺寸、打開/關閉的觸點、凸起的模具凸點、焊膏、音符以及球和蝕刻缺陷。晶圓計量學通過利用自動聚焦能力進一步增強,以獲得晶圓表面地形的精確檢查。SURFSCAN 4000單元配備了自動化檢測、全面的車載計量能力和強大的數據分析功能。先進的光學子系統提供了卓越的成像和非接觸晶圓計量,擴展了機器測量表面參數如結、突起、滑動等的能力。自動檢查和計量功能通過圖形用戶界面(GUI)操作,從而能夠快速測量和分析單個和多個晶圓批次檢查。高級數據分析提供了一套全面的測量功能,包括但不限於下降檢測器、拐角檢測器、視野、信噪比測量和蝕刻速率。集成的光學測試和計量工具實現了一致、可重復的測量,並消除了昂貴的數據解釋。SURFSCAN 4000資產是晶圓測試和計量領域的領先行業解決方案。憑借其先進的技術和創新的特點,它提供了更高的速度、準確性、可重復性、成本效益和靈活性,以滿足最苛刻的晶圓測試和計量需求。它是常規和大容量晶圓測試需求以及現場和實驗室應用的最佳解決方案。
還沒有評論