二手 KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #9167686 待售

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ID: 9167686
晶圓大小: 2"-6"
優質的: 1989
Wafer inspection system, 2"-6" Table top Flatscreen monitor Cassette to cassette handling: 4"-6" HeNe 2mW Laser, 6328 angstrom wavelength 0.20 Micron particle size sensitivity Automatic calibration 20-Column thermal printer 1989 vintage.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN是一種健壯的晶圓測試和計量設備,專為各種先進的半導體工藝應用而設計。強大的工具提供晶圓地形和缺陷檢測的高速分析,以提高芯片性能。此自動化系統利用高級分析和成像技術快速識別和表征表面特征,如小參數缺陷、顆粒汙染物和粗糙度。KLA 4500 SURFSCAN配備了幾種專門的固定式光學器件,可同時對多達四個測試樣品進行測試。它具有高動態範圍的光學組件,可提供高達25 nm的深度分辨率,並具有寬廣的視野,可以快速準確地進行分析。該測試單元非常適合測量晶片的電氣、光學和機械性能,以提高可靠性和性能。Surfscan 4500具有自動盤櫃控制功能;全自動邊緣檢測機;包括暮光和相移照明在內的多個入射角;高速、高分辨率成像;自動缺陷大小化;和自動缺陷分類。該軟件包還包括包括CD-SEM、WFE-OV、XT、CD-TOPO、AF-MAP、OV-WFE和X-TEEM在內的廣泛的分析庫,以幫助檢測和表征表面和地下缺陷。為了確認缺陷,Surfscan 4500可以連接到多種二次測試系統,包括掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡或自動光學檢查系統。4500軟件還設計用於報告可用於趨勢分析的數據,用於高級過程控制。該工具生成的數據也可以鏈接到以前分析運行的歷史數據,以便於監測過程參數的各種變化。Surfscan 4500是一種可靠且耐用的資產,采用模塊化結構構建,便於維護和I/O連接。憑借其先進的分析技術和自動化測試能力,這種高效的模型是自動化晶圓測試和計量的重要工具。
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