二手 KLA / TENCOR 5107 #9120918 待售

KLA/TENCOR 5107晶片測試和計量設備是一種先進的技術，能夠對半導體晶片進行精確的測量、測試和表征。該系統使用先進的光學和顯微傳感器檢測晶圓表面的微觀缺陷，並測量其物理特性。該裝置在高真空狀態下工作，以消除任何可能幹擾測量的塵埃顆粒。KLA 5107機器具有集成的晶圓處理工具,允許晶圓在三個維度上移動,從而實現更精確的測量和測試。集成測量臂具有一系列傳感器，能夠一次測量多片晶圓。資產利用高級分析軟件來分析從傳感器收集的數據，並生成詳細的晶圓圖和過程報告。與其它晶圓測試和計量系統相比,TENCOR 5107模型具有許多優點。由於先進的光學設備和集成的晶圓處理設備，它可以測量較小的缺陷。它還能夠測量晶片厚度的變化，捕捉表面張力和附著力的特性，從而影響半導體器件的性能。5107系統包括一個用戶友好的圖形用戶界面,可從PC和移動設備訪問,從而完全控制測量和測試過程。該單元還可以輕松地與現有軟件和數據庫同步,從而實現與現有生產管道的無縫集成。KLA/TENCOR 5107機器是專為在潔凈的房間環境中運行而設計的,在這種環境下提供卓越的性能。該工具配備了提高性能、降低汙染風險的高效空氣冷卻資產、凈化模型和真空室。該設備還旨在通過減少測量和測試晶片所需的人工來降低成本。自動化系統（如KLA 5107）能夠加快測試周期,並且比手動流程更準確。它們的使用還可以減少由錯誤和缺陷引起的成本。總體而言，TENCOR 5107晶片測試和計量系統是測量和測試半導體晶片的先進可靠工具。與其他計量系統相比，該單元提供了無數的優勢，例如能夠測量較小的缺陷、用戶友好的界面和自動過程，這可以節省成本和時間。