二手 KLA / TENCOR 5300 #120866 待售

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ID: 120866
晶圓大小: 8"
優質的: 2001
Overlay measurement system, 8" Process: PEP Control console: Console PC Monitor Keyboard and trackball Video printer Sub storage device (CD/floppy/tape) Power and signal cables Handler: Robot Power and signal cables Inspection station: Main body stage X-Y chuck stage Optics Power and signal cables Includes: Site preparation manual Software version upgrade manual Operation manual Customer logbook Backup floppies (1 set) 208 V, 1 phase, 50/60 Hz, 12.5 A 2001 vintage.
KLA/TENCOR 5300是一種最先進的晶圓測試和計量設備,專門設計用於半導體器件的自動化和精確分析。它為在生產過程中評估和表征晶片、模具和最終元件以及各種封裝形式的測量和表征提供了一個用途廣泛、用戶友好的平臺,包括但不限於板載芯片(COB)、球柵陣列(BGA)和翻轉芯片設計。該系統由計算機工作站、探測站和高級CCD攝像頭組成。工作站配有觸摸屏界面、綜合運動控制和內部數據采集,提供測試程序和數據收集的控制和可追蹤性。KLA 5300中的集成探測站是一種高分辨率、可編程的探頭,可根據不同的晶圓大小和探頭形狀輕松移動和調整。它還提供高度精確的測試測量和數據收集。除了用途廣泛的探測站外,該裝置還采用先進的CCD攝像機技術進行檢測、表征和缺陷檢測。TENCOR 5300中的自動成像機能夠以高分辨率成像,具有20 µm的偵測精度,以及可靠的高完整性影像校正工具,提供每個樣本的高保真影像。自動和用戶導向的性能優化技術(包括自動縫合和動態焦點設置)可實現質量計量。5300還具有多種應用程序和軟件選項,允許用戶自定義資產以滿足其特定需求。從基本過程控制到高級IC測試,該模型提供了多種軟件包和選項,允許用戶根據自己的特定需求定制設備配置。總之,KLA/TENCOR 5300是一種功能強大的晶圓測試和計量系統,配備了多功能探測站和先進的CCD相機技術。KLA 5300具有用戶友好的觸摸屏界面、集成的運動控制和數據采集,以及各種各樣的軟件選項,是半導體器件和封裝質量測試和分析的理想選擇。
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