二手 KLA / TENCOR 5300 #9161978 待售
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已售出
ID: 9161978
優質的: 2001
Overlay measurement system
Hardware configuration:
Chuck: 8"
Handler: Open cassette with PRI dual end-effector robot
Cassette type: Dual open cassette
Line conditioner: Yes
Network: Yes
Signal tower: No
UPS: Smart-UPS 500
Main console: Yes
Load port: 8"
(2) Open cassette stations
VME:
CPU Board: Yes
Memory board: Yes
Video (Matrox) board: Yes
I/O Board: Yes
PZT Controller board: Yes
I/O Adapter board: Yes
Motion and controller:
Power supply: Yes
X Driver board: Yes
V Driver board: Yes
Z Driver board: Yes
T Driver board: Yes
L Driver board: Yes
XYT Stage: Yes
PM Target: Yes
Z Motor: Yes
Host chuck: 8"
Z PZT: Yes
PCB and pneumatics panel:
I/O Interface board
PZT Driver board
Interlock board
Pressure panel
Vacuum panel
Flotation module:
IDE Controller
(8) Motors
(3) Proximity sensors
(3) Hard stop
LINNIK and AMS:
HLS Lamp housing: Yes
Dual aperture: Yes
LLG: Yes
LlNNIK Camera: Yes
PIN Diode array: Yes
P PZT: Yes
Shutter: Yes
AMS Camera: Yes
Power module:
P Power transformer (Line conditioner): Yes
AC Compartment: Yes
Main DC power supply: Yes
HLS Power supply: Yes
Software configuration:
Operation system: Windows NT 4.0
Computer configuration:
CPU: Pentium II 400 MHz
RAM: 256M
(2) Hard drive disks: 9G
Floppy drive: Yes
CD ROM: Yes
Tape driver: Yes
Monitor: Yes
Thermal printer: Yes
Keyboard / Tracking ball: Yes
Facilities:
Input power: 225VAC, 50/60 Hz
Computer input power: 110 VAC
Input vacuum: 25 Inches Hg
Input CDA: 97 - 110 PSI
Handler check:
Robot: Yes
End effector: Yes
Pre aligner: Yes
L Cassette: Yes
R Cassette: Yes
Currently crated
2001 vintage.
KLA/TENCOR 5300晶片測試和計量設備是一種用於分析和確定半導體晶片質量的高度精確的系統。它采用超高速激光掃描儀,能夠在短時間內以驚人的精度測量晶圓尺寸、平坦度和厚度。該單元的主要功能包括高速激光掃描儀、圖像分析軟件以及集成軟硬件包。激光光學能夠快速高效地掃描整個晶片,提取所有必要的數據,如邊緣、線長、線寬和其他表面特性。圖像分析軟件隨後從激光機器獲取讀數,並生成晶圓表面的數字地圖,用於生成報告、繪圖和其他數據輸出。收集到的所有數據都存儲在一個大型數據庫中,可以隨時訪問。集成的軟硬件包為用戶提供了強大的工具,可以快速準確地測量復雜的表面形狀,並確定晶圓中的任何異常或缺陷。刀具根據收集到的數據自動計算每個晶片所需的校正參數。KLA 5300晶圓測試和計量資產提供了詳細的報告,用於質量控制和產品開發,以及評估工藝變化對晶圓質量的影響。它是一個高效可靠的模型,具有用戶友好的界面,用戶可以快速高效地執行常規和特定的檢查和分析操作。它的準確性和能力範圍使其成為任何半導體制造商或實驗室的寶貴工具。
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