二手 KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293739429 待售
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ID: 293739429
晶圓大小: 8"
Particle inspection system, 8"
Maximum wafer capable, 8"
Pentium PC
Sensitivity:
Defect: 0.12µm
Defect map and Histogram
Haze map and Histogram
Argon Ion Laser
2D Signal integration
Parallel printer port
Blower box
SECS II Communication port
Windows OS
Operations manual and documentation.
KLA/TENCOR SFS 6200是一種高性能晶片測試和計量(測量)設備,設計用於對半導體模具和晶片的特性進行準確可靠的測量。它利用先進的成像技術和極其精確的力板技術來精確測量晶圓級和器件級特征。該系統能夠測量各種基本特性,包括模具尺寸和形狀、均勻性和位置精度、器件臨界尺寸、邊距深度以及漏電電流和電阻等電性能。該設備的前沿成像技術由先進的專有算法和傳感器提供動力,確保了極其準確和可靠的結果。該機器的成像功能提供了晶片的完整計量覆蓋範圍,使客戶能夠詳細了解晶片級別的特性,如粘合和縫合、微汙染和模模不均勻性。此外,該工具的成像資產利用快速、簡單的自動對焦和自動送出功能實現了流程優化。該模型還具有可靠、堅固的力板技術,能夠用三個高速力傳感器精確測量器件臨界尺寸(CD)、邊緣平滑度和斜角深度等器件級特性。這使客戶能夠快速識別晶圓中的問題區域並立即采取糾正措施。該設備還提供快速設置和轉換功能,使客戶能夠快速高效地執行測試。此外,系統的機載計算機提供了對測量過程的所有步驟的全面控制,包括自動化操作。此外,KLA SFS 6200通過與KLA Eagle質量管理軟件輕松集成,確保了高質量保證。此軟件為客戶提供實時數據分析和簡單的過程控制,以實現完整的批量級控制。總的來說,TENCOR SFS6200機器在半導體模具和晶片的測試和計量方面提供了無與倫比的精度和可靠性。憑借先進的成像技術和力板技術,客戶可以快速輕松地測量其晶片和設備的基本特性,從而提高性能、效率和質量保證。
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