二手 KLA / TENCOR 6200 #64476 待售
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已售出
ID: 64476
晶圓大小: 2" - 8"
Particle Measurement Tool
Capable of 2" - 8" wafers
Currently configured for 8" wafers, PA-172 Cassettes
Non-patterned surface Inspection System.
KLA/TENCOR 6200是一種晶圓測試和計量設備,旨在提供快速的過程監控和快速的數據分析。KLA 6200是一個自動化系統,能夠測量晶片的表面和厚度特性、處理大量數據、識別異常以及對多個樣本進行分類和跟蹤。該單元有一個晶圓支持平臺,即盒式磁帶和裝載機,其中晶圓被裝卸。TENCOR 6200配備了包括白光幹涉儀(SLIM)、散射法、光學反射法、散射光度法和3D表面剖面儀在內的多種計量工具。SLIM通過大氣加壓來降低晶圓表面大氣汙染的風險。此外,6200可以同時執行非接觸和接觸計量。對於數據分析和狀態監控,KLA/TENCOR 6200與KLA IntelliWafers軟件集成。IntelliWafers是一套集成軟件應用程序,旨在準備、分析和報告晶圓檢測數據。它提供了一整套功能,包括對工藝晶片進行自動統計分析的能力,以及實時的工藝監控。IntelliWafers可以生成報告和數據圖,從而深入了解關鍵流程指標以及流程變化和異常的趨勢。吞吐量方面,KLA 6200每小時最多可測試300件。它還可以很容易地集成到各種其他系統中,包括在線和離線系統。此外,它可以配置為滿足各種應用的需求,包括測試高長寬比晶片。綜上所述,TENCOR 6200是一款高效的晶圓測試計量機,能夠提供快速的過程監控、快速的數據分析和全面的報告。其廣泛的特性使其適合各種應用,高速吞吐量使其能夠快速處理大量數據。最後,該工具與IntelliWafers軟件集成,可確保自動統計分析、實時過程監控和全面數據分析。
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