二手 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #158595 待售

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KLA / TENCOR 7700 Surfscan
已售出
ID: 158595
晶圓大小: 8"
Wafer inspection system, 8" Can accommodate wafers from 2 to 8" dia. Sensitivity - Particle: .117 micro-meter dia. latex spheres with >90 percent capture rate Haze: 1 ppm minimum Cassette to cassette handling Detects defects as small as 0.15 µm Defects below 0.2 µm can be detected on many process levels, including nitride, oxide, polysilicon and TEOS films.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan是一種晶圓測試和計量設備,為晶圓表面質量控制提供可靠而強大的解決方案。該系統包括提供高分辨率成像、自動檢查和快速數據分析的高通量光學顯微鏡。該單元具有高達20毫米的令人印象深刻的視野,可以快速準確地掃描整個晶圓表面。KLA 7700 Surfscan使用了幾種先進的技術來保證高品質的性能。它有一個集成的頻閃激光機,在明場和暗場成像模式下提供晶圓表面的詳細高清成像。該工具還利用了幾種先進的算法進行缺陷自動檢測和分類。此外,TENCOR 7700 Surfscan還提供了廣泛的自動化計量功能,包括晶圓聚焦、臨界尺寸測量、邊緣和邊緣輪廓測量、3維測量等等。7700 Surfscan還提供了可靠且易於使用的軟件平臺。此軟件提供直觀的用戶界面、自動缺陷審查功能和強大的數據分析工具。此外,該資產還具有網絡連接和數據傳輸功能,使晶圓測試和分析數據庫的管理更加容易。然後可以對質量控制數據進行排序和分析,以提供晶片表面性能和可靠性的實時反饋。總體而言,KLA/TENCOR 7700 Surfscan是一種可靠且高質量的晶圓測試和計量解決方案。其先進的成像和檢測技術,加上直觀的軟件平臺和強大的網絡連接,使該模型成為任何晶圓測試和分析環境中的寶貴資產。憑借強大的性能和用戶友好的設計,KLA 7700 Surfscan為確保晶片在研究和工業應用中的質量和可靠性提供了可靠而高效的解決方案。
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