二手 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #65199 待售

ID: 65199
Wafer inspection system 8" Chuck.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan是一種高性能晶片測試和計量設備,設計用於半導體晶片的分析和檢驗。它用於查明晶片上的缺陷並獲得關鍵的測量數據以提高產量。KLA 7700 Surfscan快速、準確地對齊、掃描和處理晶片,並采用先進技術準確識別、表征和測量潛在缺陷。TENCOR 7700 Surfscan系統的關鍵特徵包括高速數位模式識別(DPR),使其能夠高精度地偵測和測量模式;快速掃描和處理時間,使設備能夠快速分析和測量晶片;集成缺陷打印檢查(DPI)和總光刻缺陷報告(LDR)。7700 Surfscan能夠檢測和測量晶片上的各種潛在缺陷,例如橋接、開放連接和針孔,以及可能對晶片性能產生負面影響的汙染物和顆粒。此外,機器的自動缺陷分類技術可以快速而準確地對缺陷進行分類和測量。KLA/TENCOR 7700 Surfscan有一個光敏工具,可以為晶片的分析和掃描提供安全的設置。高分辨率成像數據以多種格式存儲,包括TIFF、For Eval、Focal Plane和JPEG。這允許用戶生成包含詳細圖表、圖形和圖像的復雜報告,以更好地分析晶圓的屬性。它還擁有一整套功能強大的軟件工具,用於編程用於晶圓分析和測試的定制配方,以及自動糾正操作。KLA 7700 Surfscan為用戶提供了用戶友好、直觀的圖形化用戶界面,使用戶能夠快速高效地調整設置。資產速度極快,效率極高,為長期分析提供了準確的數據。而其先進的技術使得它成為測試和計量程序的優越選擇。該模型常用於大批量生產設置,以提高質量控制,降低成本,提高工藝產量,最大限度地提高晶圓產量。對於任何需要快速、準確分析和詳細計量數據的應用來說,這是一個極好的選擇。
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