二手 KLA / TENCOR 7700M Surfscan #131420 待售

KLA / TENCOR 7700M Surfscan
ID: 131420
Patterned Wafer Inspection System.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan是一種高精度、高速晶圓測試和計量設備,設計用於對各類半導體晶圓進行精確的表面測量和缺陷檢測。它具有業界最高的吞吐量和分辨率,被半導體制造商用來確保其產品的質量。KLA 7700M Surfscan包括多項先進技術,使其能夠實現高性能。系統的核心是多通道檢測體系結構(MDA)。這是一種光學設計,采用先進的傳感技術和圖像處理算法,以無與倫比的精度生成晶圓表面的圖像。該單元還利用專門的高分辨率掃描級,使其能夠以高度精確的二維網格圖樣快速成像晶圓表面。此外,它還包括一個自動缺陷分類機,可以用來識別和定位晶圓上的缺陷使用機器學習算法。該工具具有很高的適應性,可用於測量包括內存、邏輯、邏輯集成電路和顯示應用在內的多種晶圓類型。測量參數也可根據所測試晶圓的類型進行調整。它能夠收集多種指標,包括掃描間距、位置精度、表面粗糙度和缺陷大小,這些指標都可以用來評估晶圓的質量。TENCOR 7700M Surfscan是任何希望最大限度地提高產品質量和可靠性的半導體公司的寶貴工具。它是同類中唯一的晶圓測試和計量資產,提供無與倫比的精度和速度,同時也高度適應不同的晶圓類型。通過提供評估晶圓質量的可靠和準確的方法,該模型可以幫助確保制造保持一致並生產高質量的產品。
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