二手 KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293627334 待售

ID: 293627334
優質的: 1996
Wafer inspection system 1996 vintage.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan是一種高精度晶圓測試和計量設備,用於監控和控制設備制造過程的質量。該系統可以快速、準確地測量地形、輪廓、臨界尺寸和納米級特征。KLA 7700M Surfscan利用掃描電子顯微鏡(SEM)掃描步進楔形、掩模圖案或晶片基板。這款掃描電子顯微鏡帶有自動聚焦、高壓電源、X射線探測器、二次電子探測器和高級控制軟件等先進功能。該單元的高級成像功能得到其高分辨率變焦光學和強大的分析工具的進一步補充,這些工具包括統計特征提取、缺陷分類、汙染分析、產量管理、3D可視化、視頻測量等。掃描電子顯微鏡完成數據采集過程後,TENCOR 7700M Surfscan機器允許用戶分析和評估數據,必要時還可采取糾正措施。這種成像和分析數據可以幫助確定最佳蝕刻速率、開發流程改進協議、預測故障率以及避免潛在的產量損失。7700M Surfscan還提供了一種自動的prober接口工具,允許獲得精確的測量值,如臨界尺寸、地形和完全蝕刻電路的粗糙度。此資產還包括高性能攝像頭和高級光學設備,可實現精確的3D掃描功能。通過深入了解制造過程和集成的計量功能,KLA/TENCOR 7700M Surfscan為半導體行業的質量監控、跟蹤和控制提供了強大而可靠的解決方案。此模型旨在為用戶提供盡可能最準確和可靠的分析數據,使他們能夠保持盡可能高的質量標準,並減少因錯誤或效率低下而造成成本高昂的返工、停機、報廢和產量損失的風險。
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