二手 KLA / TENCOR 8250 #293799671 待售

KLA / TENCOR 8250
ID: 293799671
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8250是一款功能強大的晶圓測試和計量設備,旨在為半導體行業的晶圓提供高性能、可靠的測試和精確的計量。該系統結合了成像和光學特性以及廣泛的計量能力,如晶圓計量數據的自動審查以及定制標準和規格限制。該單元由KLA 8250 Mainframe、Wafer Handler、Vision Machine和Thin Film Processor四個組件組成。TENCOR 8250 Mainframe是工具背後的引擎,控制其他系統的運行並提供結果的數據分析。晶圓處理程序是一種自動資產,用於檢查、運輸和定位晶圓在計量室中進行檢查。視覺模型包括一系列攝像機,這些攝像機使用不同角度捕捉晶圓的圖像,用於精確監控。最後,薄膜處理器可以獨立定位和測量設備表面的缺陷。8250設備配備了一系列精密的計量工具,包括光學檢查、用於3D成像的共聚焦顯微鏡和能夠測量薄膜參數的歸檔努力(「FEL」)。FEL允許測量薄膜厚度和均勻性,還可以估算設備層中元素的濃度。此外,該系統可以同時測量多達六十個特性,包括地形、薄膜沈積、電擊穿和電移動特性。為了進一步滿足制造過程的需要,該單元有能力定制測試的規格限制和標準。這樣就可以對數據進行高效和可靠的分析。該機器還與數據庫軟件兼容,用於將質量數據輸入到客戶定義的文件格式中。KLA/TENCOR 8250提供無與倫比的晶圓測試和計量技術。其廣泛的功能、先進的計量工具、可自定義性和軟件兼容性使其成為半導體行業的必備產品。憑借其先進的技術,KLA 8250是一種高度精確可靠的工具,可確保在生產過程中保持一致的設備性能。
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