二手 KLA / TENCOR 8450 #9316172 待售

ID: 9316172
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8450是一種最先進的晶圓測試和計量設備。它旨在滿足半導體和MEMS行業對晶圓精確測試和計量的苛刻要求。該系統結合了多種選項和功能,以提供高精度的測量和分析能力。KLA 8450提供多傳感器檢測功能、高速、精確和最小侵入性測試。它利用集成的光學和機械傳感器來確保高精度的結果。高倍率光學器件提供晶圓表面的清晰成像。該單元旨在提供強大的圖像處理功能,允許隨著時間的推移對晶圓表面進行自動化數據分析和比較。TENCOR 8450使用自學、超靈敏、多用途的成像機測量各種晶圓表面特徵。該工具可使用多種掃描方法進行配置,例如區域平均、線路平均或單點掃描。它可以測量簡單和復雜的拓撲,允許對大晶片進行詳細的分析。資產還提供晶圓表面的自動映射,以便與指定的標準進行比較或比較。8450具有集成的、專利的自動采樣模型。此功能可確保晶片按任意順序均勻測試。設備設計有各種可定制的控件,允許用戶優化測試過程。KLA/TENCOR 8450還提供了廣泛的數據采集、分析和遠程控制功能。數據采集選項包括自動化和半自動化晶片尺寸測量、表面粗糙度和輪廓分析。分析功能包括整體晶圓曲面曲率測量、潤濕角度和缺陷分析。該系統還提供一系列半自動和自動控制功能。KLA 8450的設計旨在為各種半導體和MEMS要求提供全面的測試和計量能力。其功能和特點提供準確可靠的結果,使其成為晶圓級測試的理想選擇。該單元可與其他設備集成進行綜合測試和計量。它對用戶友好的控制和自動化的過程使機器易於操作和維護。
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