二手 KLA / TENCOR Acrotec 6020 #9299334 待售

KLA/TENCOR Acrotec 6020晶片測試和計量設備利用光學技術和先進算法對晶片進行測試、輻射硬化和高性能半導體材料的高精度、高帶寬表征和分析。該系統為晶片的地下分析提供了一種耐磨、高效的方法,並提供了一整套軟件、硬件和測量工具,可以進行詳細、方便和可重復的計量測量和數據分析。KLA Acrotec 6020具有大視野，具有高橫向和垂直分辨率，並提供了廣泛的運動範圍來測量各種晶圓邊緣形狀。它包含光學變焦和自動聚焦，以及先進的圖像處理技術，可以進行精確和可重復的測量。它還具有二維激光位移傳感器，用於先進的平面和臨界尺寸（CD）測量。該單元結合了高速、多角度的成像機和強大的3軸掃描頭，每次運動可穿越7 cm2以上，允許較高的采樣率。它還能夠在每次測量時生成多達兩GB的未壓縮圖像數據,從而大大提高了準確性和可重復性。此外,TENCOR 6020還配備了功能強大、直觀的標簽和註釋工具包,使用戶能夠快速識別和註釋晶圓上的特征以進行數據比較。它還允許對多個大型晶片組進行自動特征比較,並且可以連接到聯網計算機以傳輸結果或利用非現場分析。計量工程師、研究人員和技術人員可以利用Acrotec 6020來測量、表征和分析各種晶圓和輻射硬化材料。其精確和可重復的測量，加上其直觀的標簽和註釋能力，使其成為晶圓測試和計量實驗室的寶貴工具。借助KLA/TENCOR 6020,對晶片進行先進、高效的分析現在比以往任何時候都更容易、更容易獲得。