二手 KLA / TENCOR AIT 1 #182433 待售

KLA/TENCOR AIT 1是一種前沿晶片測試和計量設備，旨在高效地測量、分析和評估半導體晶片的各種參數。它提供實時反饋，使操作員能夠在生產的每個步驟優化工藝參數並評估工藝結果。為便於晶圓測試,KLA AIT 1采用KLA專利OptoScribe™技術。這種獲得專利的光學系統確保了最佳的測量精度，能夠檢查納米尺度的晶圓表面和結構。它還可以測量從20-40 μ m到幾納米的各種缺陷大小。TENCOR AIT 1提供了一套獨特的光學和聲學傳感功能,有助於確保晶圓測試的可靠性和精確度。例如,該單元能夠進行高度精確的角度測量。它還具有檢測和評估低功耗成像和原位地形圖測繪缺陷的能力。AIT 1可容納各種各樣的晶圓大小和配置,包括高級2D和3D晶圓。它還提供了一種自動缺陷分類（ADC）機器，能夠有效地將有意義的結果與背景噪聲分離。該工具還配備了先進的軟件工具，便於實時分析測試數據，以及詳細的報告生成。此外,它還具有獨有的可追蹤性功能,使操作員能夠快速準確地跟蹤和記錄測試過程中的步驟。這有助於確保流程可重復性和質量控制。在硬件功能方面,KLA/TENCOR AIT 1提供了廣泛的選項。其中包括用於晶圓定位和掃描對準的可編程運動表、高對比度BGA檢查頭和自動感應反饋模塊。所有的軟件和硬件組件協同工作，以保證從KLA AIT 1資產結果的準確性、精確度和質量。總體而言，TENCOR AIT 1是需要高效、可靠晶圓測試和計量的半導體制造商必不可少的工具。其令人印象深刻的一系列功能、先進的軟件和硬件功能,以及強大的可追蹤性模型,使其成為質量保證的首選。