二手 KLA / TENCOR AIT II #293585798 待售

KLA / TENCOR AIT II
ID: 293585798
Defect inspection system.
KLA/TENCOR AIT II是半導體IC制造商先進的晶圓測試和計量設備。該系統為關鍵電氣、光學和幾何器件參數的表征提供了高精度測量,從而優化了開發和制造過程。KLA AIT II提供了多種晶圓測試和計量平臺。其集成計量學平臺使用獲得專利的光學技術來獲得一系列特征大小的準確和可重復的測量,以及輪廓和圖像度量。該平臺收集關鍵特征信息,例如線寬、互連和觸點的空間和高度測量以及模版圖,以支持快速優化過程。該單元還能夠分析三個維度的輪廓和圖像數據,從而全面了解復雜的設備結構。該機器獨特的電氣測試工具提供高頻、數字和模擬集成電路的測量以及廣泛的專業,並提供靈活、高速的測試能力。該資產還為各種表征儀器提供了接口,從電氣延遲線測試儀到矢量網絡分析儀。TENCOR AIT II還為檢查和組裝提供了完整的綜合計量,包括用於基板、封裝和板測量、檢查和表征的各種光學器件。提供高精度的三維測量能力,用於分析薄膜厚度和微缺陷,以及微結合結構的檢測。該模型還提供了一個全面的數據管理解決方案,用於高效收集、存儲、檢索和報告測量結果。數據庫可以支持多種測試策略,並自動生成報告以改進業務智能。AIT II是無損後續晶片測試的強大解決方案,提供配備了先進技術和集成數據庫解決方案的高精度測量功能,非常適合滿足當今半導體制造商的需求。
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