二手 KLA / TENCOR AIT II #293809807 待售

KLA/TENCOR AIT II是一種晶圓測試和計量設備,旨在快速高效地在大面積上精確測量晶圓特性。它特別適合於需要同時測量其許多晶片參數的半導體制造商。KLA AIT II使用成像和分光光度分析的組合，在微米逐微米的水平上測量晶圓的地形及其電性能。它配備了高速激光掃描顯微鏡，可以對晶圓地形進行精確、實時的測量。系統還有一個自動對焦，調整顯微鏡自動確定晶圓每一部分的正確焦點，消除測量變異性。這樣可以確保對晶片的每個部分進行最高質量的測量。該單元還利用多種光學分光光度法技術來測量每個晶片的電性能。它既可以精確地測量從晶圓表面發出的光，也可以精確地測量該光的吸收和反射。它需要廣泛的光譜測量，以便對每個晶片的電特性進行實時分析。TENCOR AIT II由高速激光機、高通量相機和可編程運動控制器組成。這種組合有助於確保每次都能取得準確和一致的結果。它還為方便操作而設計，具有用戶友好的圖形用戶界面，允許用戶快速、輕松地設置和運行測試。此外，AIT II還配備了熱跟蹤功能，使其能夠在測試過程中自動補償溫度變化，進一步提高精度。它還具有多種輔助工具,可幫助用戶設置測試並收集詳細分析所需的數據。這包括自動晶圓對齊工具、晶圓映射程序,甚至是用於故障排除的缺陷數據庫。總體而言，KLA/TENCOR AIT II是需要快速準確測量晶片特性的半導體制造商的理想選擇。這一高度先進的資產結合了超精密成像和分光光度法技術，以確保每個晶圓都有準確的特征。它還具有方便的調整功能和廣泛的支持工具，使晶圓測試和計量更容易和更有效率。