二手 KLA / TENCOR AIT II #9249021 待售

KLA / TENCOR AIT II
ID: 9249021
優質的: 2000
Defect inspection system 2000 vintage.
KLA/TENCOR AIT II是來自KLA Corp.的一種最先進的晶圓測試和計量設備,專為半導體制造商和研究機構而設計。KLA AIT II集成了多個傳感平臺,提供現場晶圓測試和計量與一個緊湊的系統。該單元為高級工藝控制提供自動化、準確和可重復的計量數據,並允許進行全半導體晶圓測試、表征和分析。TENCOR AIT II具有一套先進技術,包括集成的標線(用於晶圓的光學對準和臨界邊緣定義)、多個成像系統(包括直接和反射光學顯微鏡、電荷耦合器件相機)、非接觸式光學輪廓儀、自動化和精確的樣品定位系統、晶圓映射的光譜成像能力以及自動晶圓處理系統。AIT II通過自動化測試、實時可視化、全面的數據分析以及集成多個映像系統等高級功能,提供無與倫比的性能。該機器具有集成的軟件算法,能夠進行全面的數據處理和分析,包括自動缺陷檢測。實時表面計量功能允許精確和可重復的計量結果,從而實現更快的晶圓測試和高精度鑒定。此外,KLA/TENCOR AIT II還具有可互換的成像和測量模塊,可靈活配置不同的應用程序。該工具特別適合於小規模生產要求或工藝開發舉措以及大型工業Fab業務。KLA AIT II是一種強大的晶圓測試和計量資產,使半導體制造能夠實現更高的精度和質量控制,更好的效率,提高產量。它的先進技術為晶圓鑒定提供了全面、自動化、準確和可重復的測試,從而實現了高精度計量和數據驅動的過程優化。TENCOR AIT II具有多種多樣的配置和可靠的可重復性,為工業和研究用戶提供了理想的解決方案。
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