二手 KLA / TENCOR AIT II #9284347 待售

KLA/TENCOR AIT II（原子信息工具）是為微電子可靠性和過程控制而設計的先進晶圓測試和計量系統。它使復雜半導體器件的測試自動化，使制造商能夠準確分析器件變質，評估短期和長期的可靠性。KLA AIT II利用領先的光學、電氣和機械技術進行在線、在線生產監控和過程控制。TENCOR AIT II的光學測量能力包括測量表面粗糙度的激光反射儀、測量薄膜收縮和扭曲的剪切成像單元、測量光源的紅外成像系統、測量器件表面特征的臨界維度站以及分析器件微觀結構的掃描電子顯微鏡。AIT II的電氣能力包括測量器件特性的電氣探測站和測量器件線路電阻、電容和電感的阻抗計。KLA/TENCOR AIT II的機械能力包括一個用於測量封裝變形的扭轉級、一個用於測量振動感應應力的振動級以及一個用於測量模具附著應力的彎曲夾具。KLA AIT II的軟件套件設計用於控制、通信和從電子元件如非易失性RAM、EEPROM、Flash、NOR和NAND內存、ROM和ROM總線、微處理器和其他電子元件收集數據。它還提供了在生產環境中與流程控制系統集成的功能。它能夠執行自動測試序列並提供自定義報告。TENCOR AIT II還能夠使用統計過程控制工具監控生產過程。其內置算法隨時間監測存儲的設備數據，以檢測過程漂移和變化。此外,預測建模使用設備模板數據來確定過程漂移和預測未來設備性能。這使工程師能夠快速識別超出規格的條件並采取糾正措施。AIT II旨在支持多種語言,並提供安全、可跟蹤的數據和記錄保存。其用戶友好的界面和模塊化設計使系統易於配置、維護和故障排除。KLA/TENCOR AIT II提供高精度的大樣本集和快速上市時間。KLA AIT II是高質量、高價值生產過程控制的理想選擇。