二手 KLA / TENCOR AIT II #9292762 待售

KLA/TENCOR AIT II是一種晶圓測試和計量設備，設計用於從半導體晶圓提供精確和可重復的測量。該系統利用先進的人工智能快速準確地分析數據，並產生可靠的結果。該單元能夠測量各種參數，包括電氣、光學和物理特性。它還提供了一系列的檢查能力，如高分辨率晶圓成像、化學機械平面化（CMP）分析和後光刻膜評估。KLA AIT II機器被設計為提供高水平的準確性和可重復性，最小的操作員幹預。可通過一系列不同的設備來定制該工具,以滿足特定的需求,從而滿足各種生產和測試環境的需求。該模型以先進的視覺和運動資產控制為基礎,利用高端光學、圖像識別、位置編碼器和自動運動控制來實現所需的精度和準確性。提供機器參數反饋的傳感器陣列可確保設備以最高性能運行。TENCOR AIT II系統還集成了提供高級測試功能的大量高級算法，如缺陷檢測和邊緣放置精度分析。該單元還包括復雜的流程優化算法，如流程參數分析、檢測設計-規則違規、監控流程趨勢和機器利用等。該機器可以很容易地集成到現有的生產線或作為一個獨立的單元使用。它是高度可配置的，允許在不同的布置中使用多個傳感器和測量工具。這樣可以實現最大的靈活性和可擴展性,以滿足不斷變化的行業的需求。總之,AIT II是一種強大可靠的晶圓測試和計量工具.它提供了一系列特性和功能,使其能夠滿足生產和實驗室環境中的相同需求。其精密的算法以及先進的視覺和運動控制資產使其高效高效。這使得它成為任何半導體測試環境的寶貴工具。