二手 KLA / TENCOR AIT II #9377284 待售

KLA/TENCOR AIT II（Advanced Inspection Tool）是一種晶圓測試和計量設備，設計用於快速檢查和分析大型晶圓上的缺陷。它提供了一個高度可靠的解決方案，以確保晶片被正確處理，不包含任何缺陷。KLA AIT II由一個功能強大的自動化系統和一個X射線探測器組成，能夠在短短15秒內以超高精度檢查整個300 mm晶圓。該單元可以檢測外來和天然粒子，靈敏度與半導體工業使用的最先進的方法相當。利用照相成像，機器能夠識別、測量和分析甚至很小尺寸的缺陷。該工具的軟件可配置為檢查多達20種不同類型的缺陷,並且可以校準到低至1納米的精度水平。為了保證高精度，TENCOR AIT II的晶圓計量資產采用了標準光學技術和激光衍射相結合。這個先進的計量模型允許快速、準確的缺陷測量，甚至能夠檢測到最小的缺陷。該設備還具有多種功能，旨在提高準確性和效率。這些功能包括自動缺陷檢測系統、缺陷檢測歸檔、粒子輪廓數據、缺陷檢測序列構建器、操作員界面和圖像後處理工具。KLA還開發了一系列硬件和軟件選項，讓用戶能夠調整單元以滿足其特定需求。這些選項的例子包括增加了高分辨率顯微鏡、第三代準直檢測器和自動校準機。除了令人印象深刻的功能外，AIT II是最方便用戶的晶圓測試和計量系統之一。它擁有一個用戶友好的界面,並附有全面的文檔,可幫助用戶快速、準確地設置和操作其系統。綜上所述，KLA/TENCOR AIT II是一種功能強大、可靠的晶圓測試和計量工具，能夠為廣泛的晶圓檢測和分析需求提供快速、準確、經濟高效的解決方案。