二手 KLA / TENCOR AIT XP+ #173057 待售

KLA/TENCOR AIT XP+是一款功能強大、業界領先的晶圓測試和計量設備，旨在滿足高端需求。它是專門為解析最困難和最復雜的晶片材料而設計的，在評估和檢查樣品時提供了最高的精度。通過結合先進的光學和晶圓分析軟件,KLA AIT XP+提供了卓越的吞吐量和采樣率,以及強大的全自動設備來支持高復雜性故障分析檢查任務。XP+提供了一個集成的表面檢查系統,它結合了用於缺陷檢測的高分辨率、高保真CCD成像、用於尺寸測量的光學計量以及用於材料組成和表面表征的表面分析系統。其先進的成像技術能夠檢測尺寸從不到一微米到超過10微米深的缺陷。此外，它的自動導航裝置允許快速搜索和檢查，節省時間和提高準確性。該機器還提供先進的全自動分析功能以及快速故障識別和分類功能。通過結合確定性和概率解析算法，該工具的人工智能能夠快速準確地識別和分類多種類型的缺陷。而且，無論是光刻、聚焦離子束，還是原子力顯微鏡（AFM）操作，資產都可以根據特定的應用需求進行定制。總體而言，TENCOR AIT-XP+晶圓測試和計量模型是針對微米級缺陷檢測、檢測和分析的挑戰和復雜性的高度先進的解決方案。它結合了功能強大的光學設備、集成成像和高級軟件,可以比以往任何時候都更快速、更準確地識別各種尺寸的缺陷。該系統具有全自動分析和故障識別功能,能夠提供有關晶片質量和可靠性的重要見解,同時提供高效、經濟高效的解決方案。