二手 KLA / TENCOR AIT XP #293610165 待售

KLA/TENCOR AIT XP是一種晶圓測試和計量設備，用於分析半導體晶圓上的各種特征。它允許對晶片表面進行高分辨率成像，以及精確測量晶片的各種特征。該系統提供了一個完全集成的解決方案,可用於手動和自動化生產環境。該單元具有廣泛的特點，在晶圓測試和計量方面具有很高的精度和精確度。這包括先進的3D非接觸傳感和精確的高速自動對焦技術，即使在晶圓的深層也能實現精確成像。機器還利用先進的高精度掃描和圖像識別能力，識別和分析晶圓表面的各種缺陷。操作員還可以選擇使用手動命令來控制工具,從而實現更大的靈活性。資產還利用功能強大的基於軟件的控制和分析工具來評估從模型獲得的測量結果。這包括用於數據解釋、統計分析、多傳感器關聯和缺陷分析的軟件工具。此功能允許從設備向操作員自動實時反饋。該系統還采用模塊化設計,可高度升級,以適應各種客戶需求和不斷變化的生產需求。該單元可用於執行手動和半自動過程,包括PC、控制器、固件和軟件、電氣機櫃和傳感器等各種組件。該機器還為用戶提供了許多好處,例如更高的吞吐量、更高的流程生產率、更高的數據準確性以及改進的診斷和產量增強控制。所有這些功能使KLA AIT XP成為晶圓測試和計量的獨特而強大的工具。