二手 KLA / TENCOR AIT XP #9047332 待售

KLA / TENCOR AIT XP
ID: 9047332
晶圓大小: 8"
優質的: 1999
Wafer inspection system, 8", 1999 vintage.
KLA/TENCOR AIT XP是一種世界級的晶圓測試和計量設備,旨在提供高度可靠和精確的晶圓幾何和地形測量。該系統是一個集成單元,旨在結合測試精度、測試速度和可編程性。它具有自動化探針加載、自監控硬件和高級算法等先進技術,可幫助實現最高性能水平。采用最新的集成機器架構,KLA AIT XP包括一臺用於巖性檢測的高分辨率光學工具、一臺掃描隧道顯微鏡(STM)和一臺掃描電子顯微鏡(SEM)。這種集成的資產體系結構為晶圓上的計量和測試提供了一個單一的平臺。與市場上其他可用的系統相比,模型測量的準確性和可重復性得到了提高,這是關鍵優勢。集成的TENCOR AIT-XP是一種基於模塊化片上系統(SOC)的單元,它包括激光二極管二極管陣列,可提高精度、信噪比和吞吐量。該設備還具有高精度測量引擎,該引擎集成到系統的體系結構中,可提供快速、可靠和可重復的測量。該儀器具有自動晶片對準的可選特性,使設備能夠以最高精度檢測和校正錯位。這有助於提供可靠和可重復的測量,同時節省時間並減少人為幹預造成的錯誤。KLA AIT-XP的綜合軟件套件為用戶提供了高度的靈活性和易用性。這包括預先配置的測量軟件設置和從晶圓計量到測試模式生成的一系列應用程序的按需設置。該機器具有用戶友好的圖形用戶界面(GUI),具有實時控制和數據顯示功能。GUI還包括針對高級用戶的自定義和分析功能。該工具包括高性能數據捕獲和存儲資產,有助於確保任何測試和過程的準確性和數據安全性。這包括數據捕獲處理、缺陷數據庫管理和內置的可追蹤性。KLA/TENCOR AIT-XP為晶圓計量、測試模式生成、缺陷檢測、審閱和分析等應用提供單一解決方案。它旨在滿足多種測試和測量要求,同時仍能提供準確、快速、可靠和可重復的測量。
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