二手 KLA / TENCOR AIT XP #9236719 待售

KLA/TENCOR AIT XP是一套晶圓測試和計量解決方案,旨在使制造商能夠收集有關其產品狀況的關鍵數據。它旨在為半導體器件和其他相關部件提供成本效益高、準確的測試和計量。KLA AIT XP提供了廣泛的先進技術，從光學檢查到高級門級缺陷的使用。利用光學檢測技術快速檢測柵極等復雜運動部件的質量、尺寸和形狀。這有助於檢測潛在缺陷,節省時間和金錢。在光學檢查後，門級缺陷的使用有助於識別非均勻性和過程故障。門級缺陷的使用使得測試樣本之間的比較能夠檢測到微小的差異，這往往會導致產品性能問題。除了識別缺陷外，TENCOR AIT-XP還具有使用高級計量過程的能力。這包括使用高級曲面和輪廓測量,以及曲線、脊柱和振幅分析。這允許對新產品進行徹底測試,從而為工程師提供有關設備設計的寶貴反饋。通過研究零件的精確測量,工程師可以進行必要的修改以確保產品符合要求的規格。KLA AIT-XP還具有用戶友好的圖形用戶界面，使操作簡單高效。用戶界面允許用戶快速、方便地訪問、分析和查看各類晶圓測試和計量測試的測試結果。用戶可以輕松地識別潛在缺陷,並進行必要的過程更改以提高產品質量。總體而言,TENCOR AIT XP是一套全面的晶圓測試和計量解決方案,使制造商能夠檢測潛在缺陷並進行必要的流程更改。它使制造商能夠快速識別缺陷、準確測量元件,並向工程師提供有關設計過程的寶貴反饋。用戶友好的GUI使得利用先進的光學檢查和計量過程變得容易。