二手 KLA / TENCOR AIT XP+ #9255307 待售
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KLA/TENCOR AIT XP+是一種高度先進的晶圓測試和計量設備，專為當前和未來的半導體晶圓技術而設計，如FinFET等先進節點。它是來自KLA的這一系列超精確測量工具的最新一代,它提供了許多功能和特性,可幫助客戶將晶圓特性和過程控制提升到新的水平。KLA AIT XP+是一個自動化晶圓測試和測量系統，能夠以前所未有的速度和精度提供高精度的測量。該單元采用精密的激光幹涉儀技術，以幾埃分辨率測量單個納米級特征，遠遠超過了許多實驗室使用的傳統光學剖面儀。此外，機器還可以執行許多其他測試和計量任務，如厚度計量、線寬測量、薄膜應力測量和地形成像。TENCOR AIT-XP+還提供了若幹高級功能,使客戶能夠深入了解其晶圓特性、過程控制和可靠性過程。例如,該工具包括一個實心浸入式透鏡（SIL）模塊,以實現高長寬比結構（如finFET）的精確測量。此外,該資產還提供了廣泛的高級數據分析技術,以幫助客戶優化其流程性能。AIT-XP+還為各種基板和各種應用提供了卓越的精度、精確度和可重復性,使其成為最通用的晶圓測試和計量系統之一。其創新的設計和尖端的技術也使其非常適合在上市時間和可靠性至關重要的環境中進行極端精確的處理。最後，AIT XP+是為下一代半導體晶片技術設計的一種特殊晶片測試和計量模型。它提供業界領先的準確性、精確度和可重復性,以及許多高級特性和功能。此外，它的創新設計和尖端技術非常適合極其精確和快速的加工，使其成為可用於先進半導體研發的最有價值的工具之一。
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