二手 KLA / TENCOR AIT XT+ #9261842 待售

KLA/TENCOR AIT XT+是一種下一代晶圓測試和計量設備,它提供高度靈敏的多通道缺陷檢測功能,用於檢測和解決高級節點半導體基板上的缺陷。該系統采用電光成像、業界領先的評審集群和QA Vision技術。電光成像單元掃描廣泛的基板，允許對晶片進行快速和準確的檢查。這允許檢測晶片上的粒子、劃痕、薄膜、掩蔽和其他可能造成計量誤差的外來材料。業界領先的審閱群集利用高級算法檢查每個晶片輸出的圖像數據,這些算法旨在消除錯誤缺陷信號,從而提高靈敏度和減少錯誤警報。KLA AIT XT+通過一套名為Visual AI的定制硬件和軟件配備了獨特的QA Vision Technology。該技術將先進的機器學習算法與傳統的不同檢測方法相結合，以高精度識別潛在缺陷。本機為檢驗實踐帶來智能，自動化了繁瑣的目測過程，提高了發現的準確性。該工具還包括豐富的其他功能，以滿足半導體制造商的測試和計量需求。它包括先進的缺陷分類、多檢測器檢測以及晶圓產量最大的模級分辨率。此外,它還具有自動化的過程集成、高級缺陷監控以及快速表征和分析的報告功能。TENCOR AIT XT+為最先進的晶圓測試和計量提供了優雅的解決方案。它結合了高靈敏度、質量保證技術、先進的分類和自動化的工藝集成，使其成為尋求通過更好的晶圓生產提高產量的半導體制造商的理想選擇。資產堅固、適應性強，在多種條件下提供準確的缺陷檢測和計量。