二手 KLA / TENCOR AIT #293595750 待售

KLA/TENCOR AIT（Advanced Inspection Technology）是一種用於半導體制造的晶圓測試和計量設備。它提供了一種快速、準確、高效的方法來測量和分析晶圓制造和包裝過程中的缺陷。這種高精度系統能夠執行各種各樣的晶圓測試、計量和檢查任務，包括光學檢查、電子束成像、激光衍射、透射電子顯微鏡（TEM）、抗密度測量、粒子檢測、冷凍樣品成像（CSI）、燒傷測試、自動缺陷審查（ADR）。該單元的檢測能力從考察晶片的獨特表面特征、檢測樣品上發現極小的顆粒，到完成芯片性能分析。集成檢測解決方案可顯著提高吞吐量和節省時間,同時提供異常精確的結果。它還提供了圖像分析自動化,它提供了支持流程優化的可重復和可靠的指標。該機器可實現全自動掃描、粒子檢測和晶圓生產過程的所有階段的全面檢查,從開發到制造。這樣可以確保最終產品符合OEM的質量標準,從而獲得最大的可靠性和性能。該工具融合了高速、高精度、自動聚焦和SEM掃描，提供全面的缺陷檢測，滿足從光伏電池到內存設備制造的廣泛晶圓技術。除了自動晶圓測試之外,資產還提供了許多其他功能。它支持手動和全自動采樣,其結果可立即用於演示和分析。還可以對其進行優化，以便在制造過程的每個階段確定潛在的汙染源和成群的缺陷，從而確保對整個過程進行控制。它還能夠進行積極的產品識別和跟蹤,以實現可追蹤性。通過提供此級別的準確性、性能和自動化,KLA AIT模型使半導體制造商能夠最大限度地提高產量,降低產品成本並優化其總生產成本。結果是一條更具競爭力和效率的生產線，確保他們的產品超過行業標準和客戶期望。