二手 KLA / TENCOR AIT #293642831 待售

KLA / TENCOR AIT
ID: 293642831
晶圓大小: 8"
優質的: 1999
Defect inspection system, 8" 1999 vintage.
KLA/TENCOR AIT是一種晶圓測試和計量設備,設計用於精確測量和檢查半導體晶圓。該系統結合了光學和計算技術來檢測結構缺陷,並提供對晶片質量的準確評估。它用高分辨率數字成像傳感器捕獲晶圓表面的圖像,並使用高級算法處理數據。然後,該單元使用模式識別、自動分析和人類洞察力的組合來檢測、分類和量化缺陷。KLA AIT機器涵蓋了廣泛的晶圓生產和工藝需求,包括關鍵尺寸的表征、叠加測量和缺陷檢查。其高速光學傳感器提供了詳細的圖像分析,以識別到納米尺度的異常。它還能夠準確、一致地提供晶圓組成和表面的數據。TENCOR AIT工具旨在促進高效的吞吐量和簡化數據分析。它具有可定制的軟件和開放的體系結構,允許用戶根據需要添加硬件並輕松修改軟件。這使得它非常適合需要快速適應和快速分析的應用,例如在先進納米技術中發現的應用。該資產還配備了自動晶片裝載機,以提高生產率,以及低噪聲環境,以進行準確和可重復的測量。它還包括一個環境監測模型,確保在任何環境中的可靠性能。集成硬件和高級算法的組合也可以用來識別單個晶片之間的差異,提高產量和減少生產誤差。晶圓缺陷和等離子體蝕刻速率也可以用AIT設備精確測定。KLA/TENCOR AIT是一個理想的解決方案,適用於尋求可靠和準確測量的制造商,這些測量可以快速集成到他們的生產過程中。它旨在提供最高級別的圖像質量、缺陷檢測和性能。此外,該系統配置性強,可適應不同類型的晶圓生產.開放的體系結構使得集成新的硬件和軟件變得容易,允許用戶在需求隨時間變化時修改設備。
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