二手 KLA / TENCOR Aleris Hx8500 #9281738 待售

KLA / TENCOR Aleris Hx8500
ID: 9281738
晶圓大小: 12"
優質的: 2008
Film thickness measurement system, 12" 2008 vintage.
KLA/TENCOR Aleris Hx8500晶圓測試和計量設備是一種高級自動光學檢查(AOI)、缺陷審查和無損檢測解決方案,它提供了一套全面的高級測試功能。該系統經過精心設計,能夠以緊湊的空間提供最高水平的吞吐量。該裝置在直徑可達8英寸的晶片上運行,測試面積可達三英尺。KLA Aleris Hx8500利用二維成像機檢查直徑8英寸以下晶片的圖樣。獲取高分辨率圖像,並使用數字鏡頭來支持微小特征和整體基板的測量。先進的照明工具提供了一系列光學配置,用於檢測各種不同的晶圓缺陷,包括劃痕、孔以及線寬、形狀、深度和對準方面的缺陷。TENCOR Aleris Hx8500還配備了一個功能強大的檢查引擎,可以捕獲和記錄晶圓數據以供審核。該資產還提供可用於支持可靠質量控制決策的統計圖像分析軟件。易於使用的界面允許用戶快速設置和定制檢查,自動化的工作流優化有助於最大限度地提高檢查效率。該模型還提供了一套全面的晶圓測試能力,包括專利自動測試程序驗證、護帶優化、參數測試程序生成、參數掃描和故障保留以及模式缺陷檢測和分析。這些功能旨在在緊湊的封裝中提供最先進、最精確的晶圓測試功能。為確保晶片測試結果可靠,設備還配備了自動缺陷現場配準、配準缺陷圖像捕獲、全尺寸圖像捕獲、全晶片檢測等功能。此外,系統還提供可選的AutoRX集成校準單元,以確保準確的測量結果。為確保最大效率,機器還配備了一套數據管理工具,如集中式數據庫、數據記錄工具和報告資產。這些功能使用戶能夠輕松跟蹤測試結果、生成報告和維護有組織的晶圓數據存檔。Aleris Hx8500 Wafer Testing&Metrology Model是一種先進的晶片測試解決方案,旨在提供一種有效且經濟高效的方法來檢查和評估晶片的缺陷。設備的一整套功能提供了可靠的測試、高效的工作流優化和數據管理功能,使其成為質量控制和缺陷分析的寶貴工具。
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