二手 KLA / TENCOR Alpha Step 200 #293671323 待售

KLA / TENCOR Alpha Step 200
ID: 293671323
Profilometer Computerized surface profiling incorporating TENCOR Instrument Programmable X, Y Stage option provides automatic measurements Programmable X, Y Stage-motorized movement Up to 9 User-programmable stage positions Real-time analysis-computer calculation Continual display for delta average High resolution-routinely measures below 200 A 5 A of Vertical resolution 400 A of Horizontal resolution Video micro-scope zooms from 40X to 120X Optional 90X to 270X High power and 12X to 36X low power magnifications CRT Display plus integral thermal printer Built-in internal shock isolation Digital data handling Information display.
KLA Alpha Step® 200是最先進的晶圓測試和計量設備。它旨在提供晶圓測試和計量中最高的準確性和可重復性。該系統包括一個先進的自動光學檢查(AOI)功能,一個次埃步高測量單元,以及一套軟件工具,以支持廣泛的晶圓和芯片表征應用。KLA/TENCOR Alpha Step 200采用模塊化設計,使其能夠定制以滿足特定的制造商需求。這臺多功能機器配備了高分辨率CCD攝像頭和LED照明,為晶圓和器件提供精確的光學檢查。隨附的直觀軟件使監控、分析和存儲工具中的數據變得簡單。KLA ALPHASTEP 200的核心是其次埃步高測量工具。該工具利用先進的納米定位技術來提供最準確的步驟測量讀數。集成軟件資產使用戶能夠通過其次埃步長識別算法快速、準確地評估可達到0.05 nm的步長。TENCOR ALPHA-STEP 200的多功能性使其成為各種研究和生產應用的理想選擇。該模型可用於高級晶圓表征、缺陷分析和高級計量。此外,它還支持廣泛的產品類型,從半導體、MEMS、RF電路,到納米結構等等。準確性和可重復性是ALPHA-STEP 200的關鍵特征。它旨在獲得一埃或更好的數據分辨率。其精確的光學檢查和次埃步高測量相結合,使用戶可以獲得高度精確的測量,識別出最微小的特征和缺陷。此外,高級軟件套件還允許自動化數據輸出、快速的流程改進分析和流程配方評估。KLA/TENCOR ALPHASTEP 200功能強大的軟件還允許管理、組織和存儲各種與缺陷和計量相關的數據。這允許用戶自定義和優化他們的晶圓測試和計量任務。綜上所述,KLA Alpha Step 200是一款最先進的設備,可為要求最苛刻的晶圓測試和計量應用提供精確、可重復性和準確性。
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