二手 KLA / TENCOR Alpha Step 300 #9251591 待售

KLA/TENCOR Alpha Step 300是一種最先進的晶圓測試和計量設備,旨在以快速的吞吐量和高精度執行詳細的晶圓測量。該系統以先進的三維幹涉技術為基礎，能夠快速測量半導體晶片臨界表面的步高、表面粗糙度和形狀等結構參數。此技術可減少流程變化,同時增強質量控制和可靠性。KLA Alpha Step 300提供了廣泛的功能,使測試和計量學既簡單又強大。它具有非常快的掃描速度，采樣率高達每秒500個樣本，允許快速掃描，使其非常適合高速、精確測試和計量。此外,該單元還能夠對從平面、圓形和曲面到接近原子分辨率的各種曲面進行測試。TENCOR ALPHASTEP 300還具有集成的硬件和軟件平臺，允許控制和協調晶圓測試和計量過程。這個集成的平臺包括一個內置的SEM（掃描電子顯微鏡）以及一個Toolbox軟件套件，這使得它很容易定義和操作機器以及查看測試和計量過程的結果。ALPHASTEP 300由一系列精密的測量能力進一步增強，如3D表面參數、3D缺陷識別，甚至間隙測量和成像。該工具還提供了廣泛的掃描模式，使其適用於精細間距，高速測試和計量。此外，該資產還設計了先進的模型校準和優化功能，以確保精確、可靠的測量。KLA ALPHASTEP 300是一種功能強大且用戶友好的工具，使其成為高效準確晶圓測試和計量的理想解決方案。TENCOR Alpha Step 300憑借其集成的硬件和軟件平臺、完善的測量功能和快速的吞吐量速度,提供了無與倫比的性能和生產力水平。