二手 KLA / TENCOR Candela 6100 #293610124 待售

KLA/TENCOR Candela 6100是一種晶圓測試和計量系統，旨在精確測量和分析半導體晶圓的性質。它是一個高度復雜的系統，利用光學和激光計量技術來確定各種關鍵指標，包括擴展缺陷地形、對稱性、粒徑和分布、光學反射率、平坦度、叠加精度等等。該系統由激光幹涉儀和成像模塊兩個主要組件組成。激光幹涉儀利用激光光束測量亞納米精度的晶圓地形。它能夠提供分辨率低至6nm的詳細缺陷地形圖像。成像模塊采用高度敏感的CCD攝像機和先進的模式識別算法相結合，從晶圓表面獲取圖像。此模塊使用戶能夠可視化晶片的空間和表面屬性,包括任何缺陷的形狀和結構。為了進一步提高結果的準確性，KLA Candela 6100配備了強大的數據分析工具。激光幹涉儀和成像模塊的數據都可以現場組合和分析，創建一個綜合報告，記錄基於計量的測試結果。然後,此報告可用於識別和診斷任何異常,並對生產過程進行必要的調整。TENCOR Candela 6100是晶圓測試和計量的有效工具。它的高科技組件和強大的分析功能使它能夠為用戶提供對晶圓屬性和模式的高度精確和詳細的測量。這反過來又有助於確保生產的所有晶片保持在規格範圍內，並達到最高生產標準。