二手 KLA / TENCOR Candela C2 #293809884 待售

KLA/TENCOR Candela C2晶片測試和計量設備是一個高度精確的自動化系統，設計用於半導體晶片的高級表面和地形表征。該設備配備了公司專有的非接觸式剖面圖（NCP）和掃描電子顯微鏡（SEM）,可提供單設備和多設備功能,能夠以前所未有的精度和快速閃電速度識別晶圓的關鍵地形特征。KLA Candela C2的核心是KLA NCP機和SEM。NCP工具允許對地形數據進行高度精確、動態和非接觸式的捕獲,XY掃描分辨率精度高達0.1um。然後，SEM資產利用NCP數據提供更高層次的詳細信息，以便分析關鍵地形特征和驗證周圍特征。除了提供詳細的表征外，TENCOR C2還提供了一系列功能，旨在使晶圓測試和計量過程更加高效。該模型配備了高分辨率測量設備，設計用於快速檢測和表征不同大小和形狀的特征。這種有效的特征搜索系統，加上強大的圖像分析套件，為每個特征提供了廣泛的深入表征。此外，KLA/TENCOR C2配備了強大的自動圖像配準單元，旨在準確、快速定位和比較多個晶片的地形特征。這臺自動化機器提供了一種進行大規模晶圓級分析的有效方法。KLA C2晶片測試和計量工具為先進的半導體晶片表征提供了全面的解決方案。資產專有的NCP模型,加上SEM的高速和精確度,允許以前所未有的精度和速度對動態、非接觸曲面和地形進行表征。自動圖像配準和特征搜索設備進一步提高了系統的性能，允許對多個晶片進行高效的大規模分析。C2是半導體晶圓開發和測試的寶貴工具。