二手 KLA / TENCOR Candela C2 #96305 待售

KLA/TENCOR Candela C2是一種晶圓測試和計量設備，用於過程開發和生產控制。它具有非常先進和強大的能力，使其成為世界上測量薄膜厚度和晶圓圖案參數的最有效工具。它對晶圓表面上的薄膜和圖樣參數提供精確、快速的測量。KLA Candela C2系統具有最先進的全自動設備,可執行非接觸和直接接觸測量。它將先進的光學系統與先進的軟件相結合,提供卓越的高分辨率薄膜和陣列參數測量功能。利用TENCOR C2，可以測量範圍廣泛的晶圓地形參數，如薄膜和圖樣高度、表面積、角度、階梯高度等等。該儀器還提供了一個高動態範圍，以適應一系列的過程敏感性。其精確的計量能力使其能夠精確測量各種薄膜特性和圖案參數。Candela C2還提供了出色的流程監控，允許用戶識別流程變化並微調流程。該機還具備高速、精確的數據采集能力。它配備了功能強大的軟件包,可輕松獲取和處理高分辨率測量。該軟件能夠提供精確的測量以及比較和分析結果。KLA C2還配備了一系列用戶友好界面。它與Windows和Linux兼容，也有多種語言提供。綜上所述，C2是一種多合一晶片測試和計量工具，提供晶片表面上多個薄膜或圖樣參數的精確、快速測量。它的高級功能允許用戶識別流程變化，以及微調流程。用戶友好的接口和高速數據采集功能使該資產成為晶圓測試和計量應用的理想選擇。