二手 KLA / TENCOR FT-750 #293750959 待售

KLA/TENCOR FT-750晶片測試和計量設備是一個通用、自動化、完整的計量平臺，用於檢測和測試高密度薄晶片設備。KLA FT-750系統專為當今半導體行業中的先進IC設計和設備制造過程而設計,可提供卓越的精度、精確度和吞吐量。這種強大、可擴展的設備可優化吞吐量和成本,從而縮短測試時間並提高產品產量。TENCOR FT 750機器采用了多種計量工具，以確保測試和分析先進IC的薄IC、薄膜層和其他特性的最高質量。這包括功能強大的2D Optical Profiler測量特征深度和直徑，CD-SEM顯微鏡測量線寬和最小線緣粗糙度（LER），以及原子力顯微鏡測量表面地形。TENCOR FT-750還操作了多種高分辨率探測技術，如電像力顯微鏡（EIFM）和開爾文探針顯微鏡，在地下水平測量器件性能。除了先進的計量功能外，FT 750還提供了許多功能來加快測試和計量過程。自動檢查工具通過簡化數據分析過程來幫助提高吞吐量,並且自動設備對齊功能消除了手動對齊的需要並提高了產量。工具固件也可以用新版本進行更新,以提供更快、更準確的測試結果。KLA FT 750具有易於使用、直觀的用戶界面,是一種極其靈活、可靠且高效的晶圓測試和計量資產。操作員可以節省時間並確保獲得最佳效果,因為可以創建多種配置以適應各種設備類型和應用,如翻轉芯片設備、光電子設備和MEMS。用戶可以選擇諸如特征大小和公差、設備幾何和示例配置等參數,以產生最準確的結果。總體而言，KLA/TENCOR FT 750為晶圓測試和計量提供了最高水平的精度和吞吐量。其優越的圖像質量、可擴展性和易於使用的用戶界面使其成為IC開發和制造的理想模型。它結合了計量工具、自動屬性和設備對齊能力,為測試和計量過程增加了顯著的效率,從而縮短了測試時間並提高了產品產量。