二手 KLA / TENCOR FT-750 #9185317 待售

KLA/TENCOR FT-750是一種先進的晶圓測試和計量設備，設計用於監測集成電路在生產過程中的性能和質量。該系統基於光學非接觸技術，提供高精度、性價比和批量測試能力。KLA FT-750非常適合用於光電和光子IC、MEM傳感器和半導體元件的先進設備和電路制造工藝。TENCOR FT 750設計用於測量和監控晶片在生產過程中的缺陷。這是利用其專有的多波長背光、掃描光學和像素矩陣區域成像來完成的，耦合了每臺設備的均勻和獨特測量的特點。這確保用戶能夠準確檢測到任何電氣缺陷,如短褲、打開、損壞的通風孔和銅短褲,從而確保生產質量。此外,KLA FT 750能夠快速重復掃描和獨立測量一系列參數,以識別特定缺陷並快速評估流程性能。該單元能夠測量高級節點的參數,甚至高達7nm及以下。它以最小的特征尺寸提供檢查精度,提供快速的視覺圖像,並為各種集成電路光電探測器、電阻器、電容器和其他組件提供高分辨率分析。FT 750具有易於使用的功能,包括用戶定義的自動測試設置、針對多個傳感參數的自動設置、標準晶片校準和快速測試執行。此外，該機還配備了交叉偏振分析、高對比度和低對比度檢測、地形分析、智能缺陷分類、自動缺陷識別等綜合圖像分析工具。而且，該工具設計用於批量測試，為大批量生產晶片提供了快速高效的解決方案。KLA/TENCOR FT 750還配備了先進的軟件工具，可用於實時分析數據，以及準備簡單或復雜的報告。該資產與各種主機計算機系統和第三方軟件兼容，進一步擴展用戶的分析和報告能力。綜上所述，FT-750是一個頂級的晶圓測試和計量模型，設計用於快速詳細的檢查和缺陷識別集成電路在生產過程中。設備提供的智能自動化工具和全面分析使用戶能夠準確、一致地檢測和監控缺陷，其批量測試能力使其成為大規模生產的理想選擇。