二手 KLA / TENCOR P-170 #293799729 待售

KLA/TENCOR P-170是為半導體和先進材料研發而設計的晶圓測試和計量設備。它提供了一套全面的測試、測量和表征能力，使材料研究人員能夠快速準確地了解半導體和先進材料的電子和結構特性。該系統的核心是一種新型的6軸高度集成掃描探針顯微鏡（SPM），它結合了納米尺度分辨率和高精度掃描儀。這種組合使用戶可以在單個掃描中對晶片的整個表面執行復雜的測量，從而能夠快速而詳細地分析材料屬性，如接觸電阻、地形和設備性能。該設備還配備了高速3D分析機器，該機器使用低相幹激光源，加上定制設計的硬件和軟件平臺，在幾秒鐘內獲取晶圓特征的輪廓，為納米級特征的交互式細化和可視化提供了寶貴工具。KLA P-170的其他功能包括高級芯片設計和布局功能、集成計量學算法、獨立於溫度的自檢例程以及用於增強分析的一整套軟件。直觀的圖形用戶界面簡化了從工具中設置、運行和分析數據的任務,使經驗豐富的用戶和新手用戶都能以最小的努力獲得準確的結果。總體而言，TENCOR P-170建立在多年業界領先的研發基礎之上，為用戶提供了強大可靠的半導體和先進材料測試和計量能力。從快速晶圓剖面分析到精確詳細的孔隙分析，P-170提供了無與倫比的洞察力和對材料的電子和結構特性的分辨率。